一种γ射线的能谱与偏振度集成测量方法

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一种γ射线的能谱与偏振度集成测量方法
申请号:CN202510745723
申请日期:2025-06-05
公开号:CN120539780A
公开日期:2025-08-26
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种γ射线的能谱与偏振度集成测量方法,属于γ射线测量技术领域。本发明先获取待测γ射线经康普顿散射产生的散射γ射线的空间分布测量结果,然后确定γ射线的能谱和偏振度与散射γ射线的空间分布之间的响应函数,从而根据空间分布测量结果和响应函数,构建待测γ射线的能谱和偏振度与空间分布测量结果之间的方程组并求解,得到待测γ射线的能谱与偏振度。本发明只需获取待测γ射线经康普顿散射产生的散射γ射线的空间分布测量结果,基于康普顿散射原理,通过逆向解算能够快速准确的间接同时测得待测γ射线的能谱与偏振度。
技术关键词
集成测量方法 射线 线偏振 密度 半导体探测器 正则化算法 最小化误差 蒙特卡罗 探测系统 误差函数 闪烁体 遗传算法 成像 坐标 数值 参数
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