摘要
本发明属于光电设备测试技术领域，具体涉及一种面光源装置辐照强度的测试方法，包括以下步骤：首先，将面光源装置划分为多个测试区域，并对每个区域进行编号；其次，利用高精度光传感器阵列对每个测试区域的辐照强度进行实时采集；接着，将采集到的模拟信号通过A/D转化电路转换为数字信号，并传输至数据处理单元；然后，数据处理单元计算每个区域的辐照强度值，并分析整体辐照强度分布的均匀性和一致性；最后，通过上位机控制系统显示测试结果，并生成辐照强度分布图。本发明通过高精度传感器阵列和数据处理技术，能够快速、准确地测试面光源装置的辐照强度分布，为光源性能优化提供可靠依据，具有高效、精确和实用性强的特点。
