一种车规芯片的关键操作测试方法和系统

本申请涉及芯片测试技术领域，具体而言，涉及一种车规芯片的关键操作测试方法和系统。该系统包括：主控计算机，对被测芯片依次施加不同电压扰动；在施加每种电压扰动时，主控计算机向外部可编程逻辑芯片发送激励信号的控制指令；外部可编程逻辑芯片，向被测芯片依次发送关键操作的激励信号，并接收被测芯片返回的操作完成信号；将每种频率的激励信号和操作完成信号的时差，或者未接收到操作完成信号，或者被测芯片返回的除操作完成信号之外的信号，发送至主控计算机；主控计算机判断被测芯片的关键操作在每种电压扰动和每种频率的激励信号下是否功能失效。本申请提供的方案可以消除电压扰动对信号计时精度的干扰，保障秒级测量稳定性。