一种平移式微型芯片常高温多sites测试设备

本发明涉及一种平移式微型芯片常高温多sites测试设备，涉及常高温分选机的领域，其包括框架，框架顶部一侧边分布有上下料梭车模块A和上下料梭车模块B，框架顶部另一相对侧边依次排列有朝向上下料梭车模块A和上下料梭车模块B的Tray上料模块、出空Tray模块、进空Tray模块以及自动分Bin模块，Tray上料模块远离出空Tray模块的一侧设有上料取放模块，上下料梭车模块A和上下料梭车模块B的上方设有测试模块。本发明采用高精度传动机构、独立的双测试梭车和独立的双测试系统，引入移动机构，并借助运动控制算法，有效提高取放精度，确保芯片在放入预定位模块时不会发生刮伤现象。