缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质和程序产品

本公开提供了一种缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质和程序产品，该缺陷检测方法包括：获取检测对象在多个视场下的拍摄图像和点云图像；对点云图像进行处理，得到第一缺陷信息；基于对拍摄图像进行处理得到的经变换的拍摄图像，确定第二缺陷信息，第一缺陷信息和第二缺陷信息针对不同的缺陷类型；以及，基于经变换的拍摄图像和点云图像各自的位置信息之间的映射关系，根据第一缺陷信息和第二缺陷信息，确定缺陷检测结果。