摘要
本发明涉及电子设计自动化设计技术领域，特别是涉及一种隐蔽性缺陷的逻辑诊断方法、电子设备及存储介质，其通过获取隐蔽性缺陷文件，隐蔽性缺陷文件中包括一个或多个失效位；将隐蔽性缺陷文件按照失效位拆分为N个独立的类失效向量，每个类失效向量仅包括一个失效位；对N个类失效向量进行路径追溯和仿真，得到用于解释每个类失效向量的候选缺陷列表；根据N个类失效向量的候选缺陷列表，获取以最少数量解释所有类失效向量的候选缺陷的最小集合；根据最小集合和通过向量进行故障仿真，并根据故障仿真结果和每个类失效向量的候选缺陷列表计算最小集合中每个候选缺陷评分，生成最终诊断报告，解决了目前无法有效诊断隐蔽性缺陷的技术问题。
