一种低功耗高可靠数据校验电路、方法和非易失存储器

本发明属于大规模数字集成电路技术领域，特别涉及一种低功耗高可靠数据校验电路、方法和非易失存储器。包括：校验使能寄存器；数据校验使能控制电路，负责在所述校验使能寄存器控制下，管理和触发数据校验操作；状态数字逻辑检测电路，用于依据校验逻辑算法计算所有待校验非易失性存储器的n位二进制实际状态码值并寄存；校验寄存器，用于寄存待校验非易失性存储器存储数据全部正确情况下，n位二进制理想状态码值；校验电路，用于将所述状态数字逻辑检测电路输出的实际状态码值与所述校验寄存器存储的理想状态码值进行校验与比对。本发明为非易失性存储器烧写及状态正确性校验提供了一种低功耗、面积小、低成本且高可靠性的解决方案。