错误注入和校验方法、设备和存储介质

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错误注入和校验方法、设备和存储介质
申请号:CN202511565263
申请日期:2025-10-30
公开号:CN121037242A
公开日期:2025-11-28
类型:发明专利
摘要
本发明涉及芯片测试技术领域,提供一种错误注入和校验方法、设备和存储介质,方法包括:获取数据流的注错配置信息;基于注错配置信息,确定数据流中数据包的协议注错配置和控制信号注错配置;基于协议注错配置生成注错数据包,基于控制信号注错配置生成注错信号;基于注错数据包和注错信号,对错包过滤电路进行驱动注错。本发明提供的方法、设备和介质,以注错配置信息调度数据包,保证各数据包的错误间的耦合性,基于协议注错配置和控制信号注错配置分别生成注错数据包和注错信号,实现了协议层和信号层的分别控制,保证了错误注入的种类多样性和灵活性,拆分了注错控制和驱动,降低了错误注入的难度,提高了错误注入效率。
技术关键词
协议 校验方法 信号 芯片测试技术 电路 处理器 计算机程序产品 存储器 模板 电子设备 数据 介质