基于多芯片计算设备的模型测试系统、方法及相关设备

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基于多芯片计算设备的模型测试系统、方法及相关设备
申请号:CN202511565198
申请日期:2025-10-30
公开号:CN121029631A
公开日期:2025-11-28
类型:发明专利
摘要
本申请提供一种多芯片计算设备的模型测试系统、方法及相关设备。该系统包括输入模块,用于获取命令行参数和配置参数;主控制模块,用于解析所述命令行参数和所述配置参数,向性能压测模块发送推理命令;API服务启动模块,用于基于解析后的命令行参数启动推理服务,性能压测模块,用于基于解析后的配置参数构建多个参数组合,分别基于每个参数组合进行推理测试,将对应的推理结果发送至所述主控制模块;所述输出模块用于输出各参数组合对应的推理结果。在本申请在测试时,用户只需输入命令行参数及配置参数,主控制模块可调度API服务启动模块配置环境变量,加载待检测模型,并分别基于各个参数组合向API推理服务进程发送推理请求并启动推理。
技术关键词
模型测试系统 多芯片 模型测试方法 参数 通信链路状态 输出模块 测试模块 输入模块 命令 框架 时延 计算机 可读存储介质 格式 处理器 样本 矩阵