一种基于多流模型融合的软件缺陷定位方法及系统

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一种基于多流模型融合的软件缺陷定位方法及系统
申请号:CN202511526964
申请日期:2025-10-24
公开号:CN121029619A
公开日期:2025-11-28
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于多流模型融合的软件缺陷定位方法及系统。该方法首先采用测试用例约简策略过滤掉覆盖率较高的通过测试用例,并利用测试用例加权策略对剩余的测试用例进行加权,以反映它们揭示缺陷的能力;然后提取频谱特征和变异特征、局部语义特征和全局结构特征,其中频谱特征和变异特征通过加权可疑度公式计算,而局部语义特征和全局结构特征则通过深度学习技术获得;最后,将这四类特征进行融合,并输入到多层感知机训练的缺陷定位预测器中,得到每条代码语句的可疑度分数,从而以可疑度分数作为缺陷语句的正相关指标筛选出疑似的缺陷语句,实现软件缺陷定位。本发明可以有效揭露代码缺陷模式,从而提升软件缺陷定位的准确性。
技术关键词
软件缺陷定位方法 语句 多层感知机 频谱特征 Node2Vec算法 结构特征提取方法 语义特征提取方法 抽象语法树 计算机电子设备 分子 代码切片 LSTM模型 平方根 编码器 深度学习技术 代码缺陷 矩阵 存储计算机程序