摘要
本申请提供了一种多层聚合物铝电容的性能评估方法、装置和设备,涉及电子元器件性能检测与评估技术领域,以解决相关技术中可靠性分析方法在复杂工况和新型材料需求下存在不足的技术问题。该方法包括:采集多层聚合物铝电容在高频次循环充放电条件下的关键退化指标;基于所述关键退化指标进行Gamma随机过程建模,得到退化模型;利用贝叶斯参数估计方法对所述退化模型中的未知参数进行求解,得到参数估计结果;根据所述参数估计结果建立多层聚合物铝电容的可靠度评估模型,并基于所述可靠度评估模型确定所述多层聚合物铝电容的可靠度。