轴类件测量方法、装置、介质和设备

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轴类件测量方法、装置、介质和设备
申请号:CN202511481665
申请日期:2025-10-16
公开号:CN120947528B
公开日期:2025-12-09
类型:发明专利
摘要
本申请提供了一种轴类件测量方法、装置、介质和设备,涉及光学测量技术领域,包括:将待测轴类件置于电动转台;在电动转台带动待测轴类件旋转过程中,每间隔预设旋转角度间隔,则根据相机采集一张待测轴类件的图像,直至电动转台带动待测轴类件旋转360度,则停止,以得到若干待测轴类件图像;若电动转台的转轴中心与待测轴类件图像的图像中心未重合,则根据每一待测轴类件图像对应的旋转角度、图像长度、每一像素距离和预设扩展图像的图像长度将待测轴类件图像进行图像扩展和灰度信息平移,以得到待测轴类件的三维点云轮廓;计算得到待测轴类件的尺寸信息。本申请能够快速且通用地实现小型轴类件三维轮廓及壁厚的测量。
技术关键词
转台 轴类件 测量方法 点云 像素 相机 三维轮廓信息 可见光 偏心 图像获取单元 轮廓边缘 光源 滤波算法 尺寸 可读存储介质 多项式