摘要
本发明属于半导体光电子器件与微纳加工技术领域,具体涉及一种轴向微柱阵列异质结光电探测器芯片及其制备方法。具体方法为在带有底电极的衬底上,依次旋涂并经热处理形成钙钛矿层和有机半导体层;在有机半导体层上依次旋涂牺牲层和UV胶层;利用带有微孔阵列的PDMS弹性模板对UV胶层进行压印,经紫外曝光固化后移除模板,得到UV胶微柱阵列;通过氧气等离子体刻蚀形成UV胶微孔阵列掩模,并将图形转移至牺牲层;蒸镀金属层后经剥离工艺,在有机半导体层表面形成金属点阵掩模;以金属点阵掩模为刻蚀掩模,采用不同刻蚀气体进行两步ICP反应离子刻蚀,依次刻蚀有机半导体层和钙钛矿层,直至暴露底电极,最终形成轴向微柱阵列异质结。