摘要
本发明涉及芯片验证技术领域，尤其涉及一种基于多线程的DPI任务处理方法、电子设备和介质，方法包括步骤S1、设置M个DPI任务处理容器{C1,C2,...,Cm,...,CM}和上层管理模块DR；步骤S2、获取第n个DPI任务An，DR将An分配至对应的目标Cm的Pm中，具有依赖关系的An分配在不同的Cm中；步骤S3、Cm中的Rm在Qm中创建线程；步骤S4、Rm将Pm中的DPI任务分配至Qm中的线程中，每一线程处理一个DPI任务，Qm中的线程并行运行所分配的DPI任务。本发明提高了芯片开发过程中DPI任务的处理效率。
