基于图像处理的薄膜贴合缺陷检测方法及系统
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基于图像处理的薄膜贴合缺陷检测方法及系统
申请号:
CN202511395590
申请日期:
2025-09-28
公开号:
CN120876486B
公开日期:
2025-11-28
类型:
发明专利
摘要
本申请涉及图像处理技术领域,公开了基于图像处理的薄膜贴合缺陷检测方法及系统。该方法包括:利用偏振增强成像装置对薄膜‑导电层界面采集并预处理得到增强图像;应用双层梯度边缘检测提取贴合区边缘,标记微缺陷敏感区域;通过多尺度形貌特征提取获取界面平滑度指数和贴合均匀性特征;将特征输入支持向量分类器识别气泡‑褶皱;对识别结果进行三维重建,生成气泡分布与应力场图;最终评估贴合质量,输出完整度评分。本申请实现了对薄膜‑导电层贴合界面微小缺陷的自动化精确检测和量化评估。
技术关键词
缺陷检测方法
界面
图像处理
气泡
导电层
薄膜
应力场
高可靠性识别
边缘检测算法
平滑度
成像装置
缺陷检测系统
褶皱特征
多尺度
标记
褶皱缺陷
灰度梯度信息