用于光学元件厚度检测的SD-OCT系统及其检测方法

本发明属于光学元件检测领域，尤其涉及一种用于光学元件厚度检测的SD‑OCT系统及其检测方法，检测方法包括对待测光学元件的OCT图像进行掩膜及高斯滤波处理；采用标准差寻峰算法对经过高斯滤波的OCT图像进行峰值点检测，识别出膜层界面处的光强突变位置；对检测到的峰值点进行众数分析，确定膜层的数量；对众数分析后的峰值点进行连通域分析，过滤掉孤立的峰值点，并对缺失位置进行插值处理；对连通域分析后的峰值点进行曲线拟合，确定每个膜层的位置，并计算待测光学元件的实际厚度。本检测方法融合掩膜、高斯滤波、标准差寻峰、众数分析与连通域过滤等步骤，有效消除了伪影和噪声干扰，实现了膜层边界的精确定位。