一种通用FLASH芯片功能测试系统

本发明公开了一种通用FLASH芯片功能测试系统，涉及芯片测试技术领域，包括测试主控板、测试底板及测试子板；测试主控板被配置为：通过通信接口与测试底板实现电连接；测试底板被配置为：设置有多个工位且每个工位都设置有欧式插座；测试子板被配置为：包含测试夹具及多个封装选择电阻，测试夹具用于对待测FLASH芯片进行夹持，封装选择电阻均为下拉电阻，通过对封装选择电阻进行设置来定义不同型号的FLASH芯片，并通过欧式插头与欧式插座配合，实现与测试底板的连接；测试主控板通过串口下载测试程序，对待测FLASH芯片进行功能测试。本发明使用一套测试系统完成对不同引脚数量、不同封装和不同容量FLASH芯片的多工位自动化功能测试，提高了对FLASH芯片的筛选效率。