LED屏幕老化缺陷识别方法、装置、设备、存储介质及产品

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LED屏幕老化缺陷识别方法、装置、设备、存储介质及产品
申请号:CN202511233868
申请日期:2025-09-01
公开号:CN120781141A
公开日期:2025-10-14
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种LED屏幕老化缺陷识别方法、装置、设备、存储介质及产品,涉及缺陷识别技术领域,所述方法包括:实时采集待测LED屏幕的可见光波段光学特征数据、热力学响应特征数据及电驱动行为特征数据;将采集的可见光波段光学特征数据、热力学响应特征数据及电驱动行为特征数据输入至预训练的老化缺陷预测模型,生成老化缺陷预测结果;基于老化缺陷预测结果输出与各个LED屏幕对应的老化缺陷诊断报告。本申请采用了多维度特征融合的方式,当对不同维度的特征数据进行综合分析时,通过预训练的老化缺陷预测模型实现对老化缺陷的精准预测,以此实现对LED屏幕老化缺陷的识别,进而确定缺陷类型、程度及位置等详细信息,实现老化缺陷识别效率的提高。
技术关键词
缺陷预测 LED屏幕 缺陷识别方法 可见光波段 非线性映射关系 图谱 关联挖掘算法 老化特征 数据 缺陷识别技术 电驱动 计算机程序产品 新型缺陷 报告 多光谱 亮度 像素 色彩 指数
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