一种用于标签的磨损缺陷检测方法及系统

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一种用于标签的磨损缺陷检测方法及系统
申请号:CN202511135055
申请日期:2025-08-14
公开号:CN120747034A
公开日期:2025-10-03
类型:发明专利
摘要
本发明涉及图像处理技术领域,尤其涉及一种用于标签的磨损缺陷检测方法及系统,通过训练好的重构模型生成一个无磨损缺陷的重构标签图像,对比初始标签图像和重构标签图像定位出缺陷位置,并通过缺陷图像的像素值评估初始标签图像整体的像素值变化程度,通过二值化处理突出显示重构标签图像中标签上的关键内容和缺陷图像中的缺陷分别对应的像素点,并筛选出第一目标像素点来代表标签关键内容,筛选出第二目标像素点来定位出缺陷对标签关键内容产生干扰的具体位置,结合像素值变化程度、第一目标像素点和第二目标像素点,从多个维度更全面、准确地评估初始标签图像的磨损缺陷程度,避免了单一指标评估的局限性,提高了磨损缺陷程度的准确性。
技术关键词
像素点 标签 缺陷检测方法 样本 重构模型 缺陷检测系统 解码器 编码器 图像类别 子模块 分析模块 二值化图像 图像处理技术 重构模块 随机噪声