一种基于cGAN网络驱动的SMT元件的缺陷合成方法
申请号:CN202510991411
申请日期:2025-07-18
公开号:CN120894647A
公开日期:2025-11-04
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种基于cGAN网络驱动的SMT元件的缺陷合成方法,包括获取输入条件,构建对抗损失函数、L1重建损失函数、循环损失函数和物理损失函数,将四种损失函数进行加权求和,得到总损失函数。根据总损失函数对cGAN网络进行训练,得到SMT元件缺陷合成模型;采用SMT元件缺陷合成模型生成虚拟缺陷样本;其中,虚拟缺陷样本用于降低SMT缺陷检测模型的误检率。SMT元件缺陷合成模型生成的虚拟缺陷样本具有视觉真实性,虚拟缺陷样本中的缺陷形态与真实焊接工艺之间具有物理一致性。将SMT元件缺陷合成模型生成的虚拟缺陷样本与真实缺陷样本结合,使得训练后的SMT缺陷检测模型适用于小样本条件下的SMT缺陷检测,从而提高在真实加工场景下的SMT缺陷检测精度。
技术关键词
cGAN网络
元件
物理
缺陷特征提取
锡膏厚度
样本通道
特征提取网络
噪声
训练集
参数
像素点
仿真模型
焊接工艺
焊点
输入端