一种终端结构的制备方法、芯片

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一种终端结构的制备方法、芯片
申请号:CN202510874380
申请日期:2025-06-27
公开号:CN120379315B
公开日期:2025-09-26
类型:发明专利
摘要
本申请属于功率器件技术领域,提供了一种终端结构的制备方法、芯片,在N型碳化硅衬底的正面形成N型漂移区,在N型漂移区上形成主结,在主结的末端预设区域进行刻蚀形成尾部沟槽,使得尾部沟槽的第一侧倾角小于16°,尾部沟槽的第二侧壁延伸至芯片边缘,其中,尾部沟槽的第一侧与主结之间为场限环区域,从而仅需增加结终端扩展区和尾部沟槽的掩膜工艺下,结合场限环、结终端扩展区和沟槽结构,在保证器件耐压性能的情况下,有效缩小终端长度,减少芯片的面积占用。
技术关键词
终端结构 N型碳化硅衬底 绝缘介质材料 P型杂质 场限环结构 硬掩膜 碳化硅功率器件 隔离沟槽 湿法刻蚀工艺 干法刻蚀工艺 离子注入工艺 功率器件技术 芯片 掩膜工艺 光刻胶 沟槽结构