一种分析颗粒集合体图像的方法

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一种分析颗粒集合体图像的方法
申请号:CN202510725773
申请日期:2025-06-03
公开号:CN120235881B
公开日期:2025-08-12
类型:发明专利
摘要
本发明涉及图像分析技术领域,公开一种分析颗粒集合体图像的方法,获取硅砂试样并构建12位叠加图像,接着将其转化为16位投影图像并去噪,再转为8位灰度切片图像,同时获取其高度、宽度;然后利用先验知识得出图像中粒子最大尺寸,结合计算机可用最大运算内存,计算划分参数,把图像分成n个子区域,算出相关计算能力与内存需求;随后在子区域内建局部坐标系,计算粒子形态参数,剔除不完整及重复粒子;最后按像素ID编号原则对有效颗粒形态参数排序,生成排序后图像,本发明解决了现有技术中存在的现有技术因颗粒粘连和重叠导致分割不准确,影响计数、测量及形态分析的精度。
技术关键词
内存 集合体 切片 硅砂 面积计算公式 计算机 图像分析技术 形态 表达式 像素数组 参数 颗粒粘连 去噪方法 成像算法 坐标系 粒子 尺寸 无噪声