一种基于LCM各向异性导电薄膜的AOI视觉缺陷检测方法及设备

本发明涉及一种基于LCM各向异性导电薄膜的AOI视觉缺陷检测方法及设备，旨在解决现有检测效率低、缺陷识别稳定性差和准确率低的问题。其中方法内容包括：获取并标准化处理LCM各向异性导电薄膜图像；基于SegNet架构分割导电粒子区域；裁剪单体导电粒子区域并归一化尺寸，形成标准化数据集；利用ResNet+U‑Net模型进行训练和测试，输出粒子分布及缺陷类型概率分布。设备包括图像预处理、导电粒子分割、数据集生成、训练与测试及人机交互模块。本发明通过应用SegNet架构、ResNet+U‑Net模型及Focal Loss等技术，提高了检测效率和准确率，增强了缺陷识别的稳定性，为生产工艺改进提供了数据支持，有助于提升产品质量。