基于特征挖掘与Seq2Seq模型的超短期辐照度测算方法

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基于特征挖掘与Seq2Seq模型的超短期辐照度测算方法
申请号:CN202510607966
申请日期:2025-05-13
公开号:CN120124015A
公开日期:2025-06-10
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种基于特征挖掘与Seq2Seq模型的超短期辐照度测算方法,该方法包括:通过异常数据清洗规则剔除夜间或持续零辐照度异常数据,采用多变量尺度自适应差分构造方法生成差分特征,并结合时空动态化重构的太阳高度角时序特征,保留其负值以增强相邻日期差异性;利用可学习卷积核提取太阳高度角与气象变量的局部非线性关系,并通过全连接层融合拼接特征;构建CDAtt‑LSTM混合模型,基于Seq2Seq架构,编码器采用双层LSTM处理历史数据,解码器通过跨阶段动态注意力机制融合编码器与解码器历史状态,并引入阶段权重函数。本发明通过物理特征与深度学习的动态耦合,显著提升了辐照度预测的精度与稳定性。
技术关键词
太阳高度角 耦合特征 注意力机制 历史气象数据 滑动窗口 解码器 变量 时序特征 异常数据 编码器 阶段 非线性 动态 负值特征 重构 深度学习模型 清洗规则 样本
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