针对滑移线与孪晶的鉴别分析设备及区分方法

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针对滑移线与孪晶的鉴别分析设备及区分方法
申请号:CN202510538145
申请日期:2025-04-27
公开号:CN120609852A
公开日期:2025-09-09
类型:发明专利
摘要
本发明涉及材料分析技术领域,尤其为针对滑移线与孪晶的鉴别分析设备,包括鉴别分析设备并用于对滑移线与孪晶鉴别分析,鉴别分析设备包括:支架组件,包括底座内部下端转动安装有第一齿轮,第一齿轮上端通过轴杆固定有载物台,底座内部下端一侧通过膨胀轴扣转动安装有若干个第二齿轮,其中一个第二齿轮上端固定有第一旋钮,底座上端两侧之间枢接有轴架,轴架两侧之间枢接有安装架;采集分析器,设置在安装架上并用于采集分析;通过集成EBSD、DIC和光学成像技术,配合三级智能判别模型实现滑移线与孪晶的精准鉴别,配合独创的机械调节系统,显著提升了检测精度,为材料微观变形分析提供了全自动解决方案。
技术关键词
分析设备 区分方法 多模态数据采集 激光散斑投射装置 取向 支架组件 面心立方金属 材料微观变形 机械调节系统 空间配准算法 表面形貌数据 材料分析技术 光学成像组件 联合特征提取 分析器 轴架 扇形齿轮 光学成像技术 纳米沟槽