摘要
本申请涉及一种基于上位机的智能检测方法、装置、计算机设备及介质，该方法包括接收测试指令，并获取测试设备的历史使用数据，根据历史使用数据判断是否触发维护提醒，若测试设备状态正常，则触发芯片测试指令；基于芯片测试指令对待测芯片进行通电检测，并读取待测芯片的固件版本信息，在固件版本信息匹配的情况下，则生成射频测试指令；根据射频测试指令执行射频测试，并根据测试数据判断待测芯片是否触发参数补偿程序，在待测芯片无需补偿或补偿完成后结束测试，并生成测试结果；分析测试结果，若测试通过，则记录并上传测试数据到MES系统，同时更新测试设备的历史使用数据。本申请具有提高芯片生产质量的效果。
