芯片性能评估方法、装置、设备与存储介质

本申请提供了一种芯片性能评估方法、装置、设备与存储介质，该方法应用于芯片领域，该方法包括：获取芯片中各通道在候选配置信息下的初始参数；其中，候选配置信息用于配置通道的传输性能；初始参数包括通道的采样窗口长度；基于各通道与中心通道的目标距离，确定各通道的目标权重；其中，目标距离与目标权重负相关；基于目标权重与各通道对应的初始参数，生成参考参数；基于各通道对应的初始参数与参考参数的第一相似度，确定芯片的性能评估结果；其中，性能评估结果用于指示芯片中是否包括存在风险的通道。该方法能够对芯片中通道的传输性能进行评估，进而确定芯片中是否存在具有风险的通道，以确保通信传输的可靠性。