芯片测试方法、装置、电子设备和存储介质

本公开提供了一种芯片测试方法，涉及人工智能技术领域，尤其涉及随机指令生成、芯片测试和芯片验证技术领域。具体实现方案为：根据待处理指令流中的至少一个指令可添加位置，将至少一个待添加指令添加至待处理指令流，得到经处理指令流，其中，待处理指令流包括多个第一指令添加类型的待执行指令，至少一个指令可添加位置包括：待处理指令流中相邻的两个第一指令添加类型的待执行指令之间的位置；利用待测芯片执行目标指令流，得到待测芯片的测试结果，其中，目标指令流是根据经处理指令流得到的。本公开还提供了一种芯片测试装置、电子设备和存储介质。