一种用于芯片热管理的薄膜及其制备方法
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一种用于芯片热管理的薄膜及其制备方法
申请号:
CN202510449607
申请日期:
2025-04-10
公开号:
CN120319665A
公开日期:
2025-07-15
类型:
发明专利
摘要
本发明公开了一种用于芯片热管理的薄膜及其制备方法。其中,薄膜的结构包括:氮化硅基板、氮化硅梯度过渡层和聚酰亚胺发泡层。制备方法包括以下步骤:在氮化硅基板表面刻蚀蜂窝状阵列孔洞,在蜂窝状阵列孔洞中沉积氮化硅梯度过渡层,在氮化硅梯度过渡层之间及氮化硅基板表面填充聚酰亚胺发泡层。本发明的用于芯片热管理的薄膜及其制备方法,薄膜将芯片的余热吸收后通过辐射降温将热量散出,解决芯片运行过程中产生的余热无法及时导出的问题。
技术关键词
氮化硅基板
梯度过渡层
热管理
蜂窝状
聚酰亚胺前驱体
薄膜
芯片
氮化硅粉末
孔洞
纳米二氧化硅
阵列
低压
速率
保温
高压
碳酸氢铵
气压
氮气
发泡剂