一种用于芯片热管理的薄膜及其制备方法

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一种用于芯片热管理的薄膜及其制备方法
申请号:CN202510449607
申请日期:2025-04-10
公开号:CN120319665A
公开日期:2025-07-15
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种用于芯片热管理的薄膜及其制备方法。其中,薄膜的结构包括:氮化硅基板、氮化硅梯度过渡层和聚酰亚胺发泡层。制备方法包括以下步骤:在氮化硅基板表面刻蚀蜂窝状阵列孔洞,在蜂窝状阵列孔洞中沉积氮化硅梯度过渡层,在氮化硅梯度过渡层之间及氮化硅基板表面填充聚酰亚胺发泡层。本发明的用于芯片热管理的薄膜及其制备方法,薄膜将芯片的余热吸收后通过辐射降温将热量散出,解决芯片运行过程中产生的余热无法及时导出的问题。
技术关键词
氮化硅基板 梯度过渡层 热管理 蜂窝状 聚酰亚胺前驱体 薄膜 芯片 氮化硅粉末 孔洞 纳米二氧化硅 阵列 低压 速率 保温 高压 碳酸氢铵 气压 氮气 发泡剂