一种双界面栅氧结构器件的NBTI效应仿真方法及装置
申请号:CN202510384004
申请日期:2025-03-28
公开号:CN120337635A
公开日期:2025-07-18
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种双界面栅氧结构器件的NBTI效应仿真方法及装置,方法包括:基于双界面栅氧结构器件的三维模型构建NBTI仿真模型,通过模拟NBTI效应中界面陷阱、体陷阱和氧化层预存空穴陷阱的产生及恢复过程,得到不同陷阱诱导的阈值电压退化分量;在此基础上进行NBTI效应退化阶段模拟仿真,以提取双界面栅氧结构器件的第一电学参数变化情况,得到第一阈值电压退化分量和第一转移特性曲线;基于经NBTI退化模拟后的器件状态,进行NBTI效应恢复阶段模拟仿真,以提取双界面栅氧结构器件的第二电学参数变化情况,得到第二阈值电压退化分量和第二转移特性曲线,从而准确反映了NBTI效应的复杂性。
技术关键词
栅氧结构
NBTI效应
仿真方法
三维模型
仿真模型
界面陷阱
阶段
仿真装置
曲线
氧化层
参数
仿真软件
通信接口
可读存储介质
存储器
处理器
模块