一种支柱瓷绝缘子污秽程度检测方法及系统

本发明涉及一种支柱瓷绝缘子污秽程度检测方法及系统，所述方法包括以下步骤：获取绝缘子原始图像，通过改进的YOLOv8‑seg模型检测并分割绝缘子原始图像中的绝缘子本体区域，并进行滤波处理，得到绝缘子本体区域的可见光图像；提取绝缘子本体区域的可见光图像的RGB三维色彩特征；将湿度特征和RGB三维色彩特征作为MLP神经网络的输入，通过MLP神经网络对绝缘子本体区域的污秽程度进行检测，得到绝缘子污秽程度检测结果。与现有技术相比，本发明提高了绝缘子污秽程度识别的准确度，节省了人力物力。