用于确定目标缺陷的检测方法、电子设备和可读存储介质

本发明公开了一种用于确定目标缺陷的检测方法、电子设备和可读存储介质，检测方法包括：根据目标明场图像以及目标检测模型，确定所述图像的缺陷检测结果；其中，所述目标检测模型由测试明场图像以及根据所述测试明场图像确定的第一压缩模型确定，所述目标明场图像为待测目标的明场图像，所述测试明场图像为用于训练模型的明场图像。用于确定目标缺陷的检测方法对隔膜缺陷进行检测，可以检测出多种缺陷，检出率提高，检出速度更快。