压接IGBT模块热分布设计方法及装置

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压接IGBT模块热分布设计方法及装置
申请号:CN202510301926
申请日期:2025-03-14
公开号:CN120163123A
公开日期:2025-06-17
类型:发明专利
摘要
一种压接IGBT模块热分布设计方法及装置,属于压接IGBT模块设计技术领域,包括如下步骤:获取各个子模块在各个单独发热状态时的芯片温度;获取IGBT单元及FRD单元的个数,并根据IGBT单元及FRD单元的个数,获得子模块的各种分布情况;根据各个子模块在各个单独发热状态时的芯片温度,计算与分布情况对应的各个IGBT单元的芯片温度;根据与分布情况对应的各个IGBT单元的芯片温度,计算各种分布情况下的IGBT温差因子,根据各种分布情况下的IGBT温差因子,获得最优子模块分布情况。本申请通过计算与分布情况对应的各个IGBT单元的芯片温度,从而使得用户可以计算其所需的最优子模块分布。
技术关键词
IGBT单元 分布设计方法 子模块 芯片 温差 因子 计算机装置 计算机程序产品 处理器 功率 存储器 中子