一种基于改进ViT模型的电离层超分辨率精化重建方法、装置、设备及存储介质
申请号:CN202510286920
申请日期:2025-03-12
公开号:CN120219168B
公开日期:2025-11-07
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于改进ViT模型的电离层超分辨率精化重建方法、装置、设备及存储介质,涉及电离层建模技术领域,其包括获取待测时间段内电离层TEC数据和VTEC数据;将所述电离层TEC数据作为低分辨率图像,所述VTEC数据作为像元真实值,并根据像元真实值是否包括观测值生成掩膜图层;将低分辨率图像、像元真实值以及掩膜图层合并得到多通道张量;将多通道张量作为输入,基于改进ViT模型输出得到全球电离层地图。本发明将ViT应用于电离层的超分辨率重建中,能够有效降低对地面站点数量的依赖,克服图像过度光滑的缺点,同时可以提高电离层图像的空间分辨率,进而改善电离层模型的精度。
技术关键词
超分辨率
多通道
掩膜
上采样
图像
编码器
注意力机制
采样模块
预训练方法
时间段
训练集数据
数据获取模块
数据处理模块
建模技术
地图
地面站