一种评估芯片性能的方法、系统及计算机程序产品

本发明提供一种评估芯片性能的方法、系统及计算机程序产品，方法包括：采用第一定时器在每个采样周期触发数据采集线程，采集运行数据；采用信号量进行进程同步，运行与数据采集线程配对的控制线程，基于运行数据进行核心控制操作；运行陪测线程；采用第二定时器统计控制线程每次的执行时间；根据执行时间，评估芯片的性能。本发明提供的方法能够量化评估芯片执行代码的稳定性和实时性。