芯片验证系统、方法、装置、验证设备、介质及程序
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芯片验证系统、方法、装置、验证设备、介质及程序
申请号:
CN202510120685
申请日期:
2025-01-24
公开号:
CN120030963A
公开日期:
2025-05-23
类型:
发明专利
摘要
本申请实施例提供了一种芯片验证系统、方法、装置、验证设备、介质及程序,所述芯片验证系统包括:多个芯片对应的多个测试平台,其中,一个测试平台用于为对应的芯片提供仿真环境;所述测试平台包括所述芯片的验证对象;映射模块,连接所述多个测试平台中的验证对象,形成所述多个芯片的联合仿真环境,所述联合仿真环境用于联合所述多个芯片的仿真任务;以及,在所述联合仿真环境下,通过跨进程通信在验证对象之间传输仿真通信数据。本申请实施例提供的芯片验证系统能够支持对多个芯片的联合仿真验证,提高芯片验证的全面性。
技术关键词
仿真通信
测试平台
芯片验证方法
芯片验证系统
仿真环境
对象
计算机可执行指令
仿真器
芯片验证装置
格式
验证设备
跨进程
关系
数据发送模块
计算机程序产品
监控模块