一种混合信号芯片的电路测试装置

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一种混合信号芯片的电路测试装置
申请号:CN202422779684
申请日期:2024-11-14
公开号:CN222232619U
公开日期:2024-12-24
类型:实用新型专利
摘要
本实用新型公开了一种混合信号芯片的电路测试装置,包括基座,基座的内部设置有用于控制芯片进行测试作业的驱动组件和对芯片进行去尘的清洁组件;清洁组件包括活塞桶和凸块,活塞桶的表面贯通连接有抽吸管和排气管,抽吸管与除尘槽贯通连接;清洁组件内部滑动连接有滑轴,滑轴靠近抽吸管的一端固定连接有活塞板,滑轴靠近凸块的另一端固定连接有挤压板;滑轴表面套设有复位弹簧;通过设置清洁组件在芯片测试前对芯片进行吹气除尘,避免了对不良芯片电路进行打磨后其碎屑对后续测试造成不利影响,从而提高了测试的准确性。
技术关键词
混合信号芯片 电路测试装置 清洁组件 滑轴 测试器 基座 驱动组件 控制芯片 活塞 吹气除尘 伺服电机 限位柱 防护罩 单向阀 计数器 滑块 丝杆 散热器