一种测芯片电阻的治具

本实用新型公开了一种测芯片电阻的治具，包括底板和盖板，底板上设置有多个产品放置槽，用于放置需要电阻阻抗检测的芯片产品，盖板上对应产品放置槽两侧分别设置有简测线路结构，简测线路结构包括对应产品触脚排列设置的十个插接孔、导电轨道以及用于连接检测设备正负极的正极检测口和负极检测口，二号插接孔和九号插接孔通过导电轨道连通正极检测口，一号、三号、四号、五号、六号、七号、八号和十号插接孔通过导电轨道连通负极检测口，插接孔内插接有金属探针，用于连通对应产品触脚和相连的导电轨道。本实用新型简化测电阻阻抗流程，将原有的单颗芯片需要测量16次，简化为单颗芯片只需要测两次就可以代替，极大提高了工作效率，节省成本。