一种毫米波安检成像自聚焦方法
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一种毫米波安检成像自聚焦方法
申请号:
CN202411921426
申请日期:
2024-12-25
公开号:
CN119781067A
公开日期:
2025-04-08
类型:
发明专利
摘要
本发明公开了一种毫米波安检成像自聚焦方法,包括如下步骤:S1:对毫米波数据选定参考聚焦距离进行成像;S2:找出成像图像中的极大值点并进行区域生长;S3:分割区域生长后的各个子图;S4:以成像距离为变量对子图的方差做最值优化;S5:选择子图方差最大的成像距离作为目标成像距离成像,得到聚焦成像的子图;S6:将子图融合到原图中去,得到全聚焦的毫米波图像。本发明提供的自聚焦方法,可以解决毫米波图像自适应聚焦的问题,并且能对不同距离维度的多个目标物体同时聚焦,便于毫米波安检系统后续的图像处理。
技术关键词
波数域算法
安检图像
图像像素
图像灰度值
距离成像
安检系统
梯度下降法
成像方法
表达式
种子
回波
图像处理
变量
物体
代表
数据
坐标
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