用于芯片脉冲宽度的测试方法及装置和设备、测试机台

本申请涉及芯片测试技术领域，公开了一种用于芯片脉冲宽度的测试方法及装置和设备、测试机台。测试方法包括：根据用户输入的配置信息，构建测试pattern；其中，测试pattern中定义了对待测芯片进行测试时的设定电压、设定频率、多个模拟量档位和待测芯片的输出管脚；将测试pattern写入待测芯片的寄存器，采集输出管脚在每个模拟量档位下输出的低电平数量；根据设定频率和每个模拟量档位下输出的低电平数量，计算待测芯片在每个模拟量档位下的脉冲宽度。本申请可以提高芯片的脉冲宽度测试的效率。