缺陷图像生成方法、生成装置、生成系统和存储介质

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缺陷图像生成方法、生成装置、生成系统和存储介质
申请号:CN202411656447
申请日期:2024-11-19
公开号:CN119832100A
公开日期:2025-04-15
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种缺陷图像生成方法、缺陷图像生成装置、缺陷图像生成系统和计算机可读存储介质。本申请实施方式的缺陷图像生成方法包括:获取多个缺陷类型不同的缺陷训练集,其中,每一所述缺陷训练集对应一种所述缺陷类型;根据每一所述缺陷训练集分别微调对应的一个局部重绘模型;获取背景图像以及所述背景图像上的缺陷标注;根据每一所述局部重绘模型,在所述背景图像上基于所述缺陷标注生成对应所述缺陷类型的缺陷,得到缺陷图像。如此,生成的缺陷与背景的融合程度和视觉效果较好,可以得到高质量、多样化的缺陷图像,在工业检测项目中,便于进行产线迁移,且可以有效地缩短项目周期。
技术关键词
图像生成方法 训练集 图像生成系统 样本 图像生成装置 可读存储介质 文本 处理器 项目 模块 形态 存储器 计算机 产线 周期 工业 程序