一种光模块的自动化检测方法及装置

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一种光模块的自动化检测方法及装置
申请号:CN202411449347
申请日期:2024-10-17
公开号:CN118961732B
公开日期:2024-12-20
类型:发明专利
摘要
本发明公开一种光模块的自动化检测方法及装置,方法包括采集光模块端口的原始荧光数据;对原始荧光数据进行光谱分析,分离出荧光纳米标记物信号和背景信号;将光模块端口划分为多个检测区域,分别计算每个检测区域内荧光纳米标记物信号的平均强度;将每个检测区域的荧光纳米标记物信号平均强度与对应的预设第一阈值进行比较;若任一检测区域内的荧光纳米标记物信号平均强度超过相应的预设第一阈值,则判定光模块端口存在残留污渍;若所有检测区域内的荧光纳米标记物信号平均强度均低于或等于相应的预设第一阈值,则判定光模块端口清洁完成。本发明技术方案能够解决传统的图像检测方法无法有效识别与光模块端口表面颜色相近的污染物的问题。
技术关键词
光模块 自动化检测方法 荧光 自动化检测装置 纳米 端口 标记 光谱分析 区域生长算法 清洁组件 强度 激光扫描单元 吸水件 信号采集单元 多波长 矩阵分解算法 清洗剂