一种RFID芯片的CP测试方法及系统

本发明公开了一种RFID芯片的CP测试方法及系统，涉及CP测试技术领域，包括：通过建立CP测试机与主控模块的通信链路，获得启动RFID测试模块的开始测试信号，并根据开始测试信号生成测试指令，对RFID测试模块以及测试温度进行配置及配置信息核验，建立RFID测试模块与PCB针卡的信号通道，通过温度校准机制对待测芯片进行测试，根据测试结果对待测芯片进行等级分类，获得芯片测试数据；调节测试温度，对所有待测芯片进行不同温度的测试，基于测试数据将待测芯片的等级分类信息进行封装，得到全温度段的等级标签文件；克服了现有芯片测试方法由于缺乏多温度测试，导致芯片测试结果不准确，芯片质量差的问题，显著提高了芯片测试效率与高温段测试精准度。