一种高PVT鲁棒性模拟集成电路尺寸自动设计方法

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一种高PVT鲁棒性模拟集成电路尺寸自动设计方法
申请号:CN202410775869
申请日期:2024-06-17
公开号:CN118673863B
公开日期:2024-11-26
类型:发明专利
摘要
本发明公布了一种高PVT鲁棒性模拟集成电路尺寸自动设计方法,采用贝叶斯优化算法构建初始数据集,进行单一PVT角下的尺寸优化,再利用基于多任务强化学习算法进行多PVT角下的尺寸优化,基于最新采样进行动态PVT角剪枝。本发明通过改善初始数据集的数据质量来提高PVT鲁棒的尺寸优化过程的成功率和收敛速度;通过构建最新采样缓存和精简PVT集合,分批次地对各PVT角下的最近一次采样进行更新,再通过全PVT角测试来验证尺寸参数的PVT鲁棒性,大大降低尺寸优化所需的仿真次数,提高采样效率。
技术关键词
自动设计方法 集成电路 鲁棒性 品质因数 尺寸 折叠共源共栅运算放大器 多任务 晶体管沟道 强化学习算法 参数 网络 数据更新 贝叶斯算法 网表文件 设计工具 测试电路 聚类